沈阳波长型X射线荧光光谱仪

X荧光光谱仪产品特点：镀层检测，较多镀层检测可达5层。对于薄镀层分析精确，可以精确的分析小于1uin(0.025um）的镀层，可以准确分析0.2-0.5uin的金层。可同时进行选配RoHS检测功能，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。可同时进行选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，镍，铜等药水含量，分析精度为0.01ppm，可同时进行选配合金成分分析功能。开槽式超大可移动，专为线路板行业研制。激光定位可以连续自动多点程控测量；可以选配多准直器系统，单准直器/6个准直器/7个准直器。X射线荧光光谱仪会产生电离辐射，在测试时确保不要将仪器对着人。沈阳波长型X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪具体的步骤是：做好标样的定量变化工作曲线；将被测样品放入样品室测试，记录元素和含量参数；翻动被测样品，再记录元素和含量参数；根据平均的含量参数查标准工作曲线，从工作曲线中找到元素的准确含。X射线荧光光谱仪性能性能无疑是评估光谱仪非常重要的指针性能优异的光谱仪做筛选检测能准确无误地排查合格和不合格，并将不确定的灰色部分压缩到小;有的光谱仪铅砷不分、镉的特征谱线与X光管铑电极的特征谱线重迭等。经常误判;有的光谱仪检测镉的灵敏度不够高，不能准确判定镉;大部分光谱仪的检测稳定性受到X光管老化、环境温度、电源波动等影响，使数值不准。由于性能不足，可能发生错判、误判、无法判定等事件频发，不确定的灰色部分比例大增。其后果必然是成本明显提高、风险增加。沈阳波长型X射线荧光光谱仪X荧光光谱仪主要包括光源、激发单色器、样品池、荧光单色器及探测器等主要部件。

X射线荧光光谱仪是一种能量色散型X射线荧光光谱分析仪（简称：XRF光谱仪或XRF分析仪），也是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。

X荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。X射线荧光光谱仪是野外现场分析和过程控制分析等方面首要选择仪器之一。

X射线荧光光谱仪是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行定性和定量分析。X射线荧光光谱仪的荧光分析特点：主要特点是灵敏度高、选择性好，灵敏度要比吸收光谱测量高2-3个数量级。分光光度法通常在10-7级，而荧光的灵敏度达10-9。强选择性强，荧光物质具有两种特征光谱：激发光谱和吸收光谱，相对于分光光度法单一的吸收光谱来说，荧光光谱可根据激发光谱和发射光谱来鉴定物质。信息量丰富，能提供荧光物质的多种参数。X荧光光谱仪拥有基材自适应，软件配备多基材测试数据库。沈阳波长型X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪通过侧里和分析样品产生的x射线荧光，即可获知样品中的元家组成。沈阳波长型X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪测试样品要求：通常的定性半定量分析中X射线荧光光谱分析对测试样品有以下要求：这要求测试样品需要是均匀的，因为X射线荧光光谱分析区域体现出来的均匀性取决于材料受仪器激发的体积内样品的物理均匀性。例如尺寸合适的金属合金、塑料壳就可以看作是一个均匀的样品。对于不均匀的样品，我们需要经过处理后再进行分析，例如矿物或地质样品需要经过研磨成粉末后压片处理。有一定尺寸和厚度，X射线荧光光谱分析要求所测试的样品要完全覆盖光谱的测试窗口。覆盖不只只是指样品的测试平面宽度，还有样品的厚度要大于分析层（产生X射线荧光）的厚度，比如聚合物和轻金属如Al、Mg或Ti较小厚度要求5mm，液体厚度较小15mm，其它合金厚度较小1mm，需要压片处理的粉末样品一般4g以上。沈阳波长型X射线荧光光谱仪

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